Τμήμα Φυσικής - Πανεπιστήμιο Κρήτης Φ-277. Ηλεκτρονική Μικροσκοπία

Περιεχόμενο του μαθήματος

    Μέρος Α

  • Γενικές αρχές: Μονάδες Μήκους και Ονοματολογία | Γεωμετρική και Φυσική Οπτική | Γυάλινοι και Ηλεκτρονικοί Φακοί | Διαδρομές Ακτίνων | Είδωλα (Πραγματικά και Φανταστικά) | Απλό και σύνθετο Μικροσκόπιο | Κροσσοί Fresnel | Δίσκοι Airy | Περιοριστικά Διαφράγματα και Διαφράγματα Πεδίου | Διακριτική Ικανότητα.
  • Η εξέλιξη του µικροσκοπίου: Ηλεκτρομαγνητική Ακτινοβολία | Μικροσκόπιο Ακτίνων Χ | Ηλεκτρόνιο ως “Κύμα” | Ιδέα για την Κατασκευή Ηλεκτρονικού Μικροσκοπίου.
  • Είδη ηλεκτρονικών µικροσκοπίων: Αλληλεπίδραση ηλεκτρονίου – ύλης | Είδη Ηλεκτρονικών Μικροσκοπίων (ΤΕΜ, ΤΕΜ/R, STEM, SEM, EXMA, AFM, Φωταύγεια) | Μικροσκόπια εκποµπής ηλεκτρονίων και ιόντων.
  • Ιδιότητες µαγνητικών φακών: Δομή Μαγνητικών Φακών | Φαινόμενο Υστέρησης | Εκτροπές φακών (Σφαιρική – Αλλοίωση – Περιστροφή – Αστιγματισμός – Χρωματισμός) | Βάθος Πεδίου και Βάθος Εστίασης.
  • Σχηµατισµός ειδώλου και αντίθεση: Προετοιμασία δείγματος | Διαδικασία σχηματισμού ειδώλου | Σκέδαση | Πυκνότητα μάζας | Διαφράγματα | Θόρυβος.
  • Σύστημα κενού: Μονάδες και Ονοματολογία | Δημιουργία Κενού | Όργανα Μέτρησης Κενού | Σχεδιασµός ενός συστήµατος κενού.
  • Θεωρία κενού: Βασικές παραδοχές της κινητικής θεωρίας των αερίων | Εφαρµογή κινητικής θεωρίας | Λειτουργία αντλιών.

    Μέρος Β

  • Σύγχρονο Η.Μ. Διέλευσης: Γενικά Εισαγωγικά | Βασικές Αρχές | Δημιουργία Εικόνας | Ανατομία Η.Μ. Διέλευσης | Εφαρμογές | Η.Μ. Διέλευσης στην πράξη.
  • Σύγχρονο Η.Μ. Σάρωσης: Γενικά Εισαγωγικά | Βασικές Αρχές | Δημιουργία Εικόνας | Ανατομία Η.Μ. Σάρωσης | Εφαρμογές | Η.Μ. Σάρωσης στην πράξη.
  • Μικροσκοπία σάρωσης με ακίδα / Μικροσκοπία Ατομικής Δυνάμεως: Γενικά Εισαγωγικά | Βασικές Αρχές | Αρχή και τρόποι λειτουργίας | Γεωμετρία Ακίδας και μορφολογίας της επιφάνειας | Εφαρμογές | AFM στην πράξη (Προετοιμασία Δέιγματος)

    Μέρος Γ

  • Δοµή κρυστάλλων: Μελέτη Δοµών | Συστήµατα κρυστάλλωσης Bravais, Δείκτες Miller, Αντίστροφα πλέγµατα | Ατέλειες
  • Περίθλαση ηλεκτρονίων: Νόµος Bragg | Μέθοδοι απεικόνισης και ανάλυσης | Προσδιορισµός δοµών | Ατέλειες δοµών | Ενδοεπιφανειών και υπέρλεπτων υµενίων
  • Εισαγωγή στη µικροανάλυση ακτίνων-Χ: Αρχές και Παραγωγή ακτίνων – Χ | Φάσµα | Χαρακτηριστικές γραµµές | Τοπογραφία
  • Ανίχνευση ακτίνων Χ (WDS, EDS): Διαδικασία ανάλυσης και προβλήµατα.
  • Ποιοτική και ποσοτική µικροανάλυση (Μέθοδος ZAF): Ενεργειακά φάσµατα | Παράγοντες Κa, Κz, Kf Ποσοτική ανάλυση | Μέθοδος ΖΑF | Εφαρµογές

    Μέρος Δ - Προαιρετικό

    Το µάθηµα συµπληρώνεται µε (2) δύο Εργαστήρια άσκησης και εφαρµογές σε τεχνικές προετοιµασίας δειγµάτων για την παρατήρηση µε SEM (Επικάλυψη, οπτική παρατήρηση κλπ). Η άσκηση αφορά τόσο την επαφή µε ένα Η/Μ SEM και την επίδειξη μικροσκοπίων ΤΕΜ και AFM.